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 一次掃描檢查隱藏結(jié)構(gòu)蔡司工業(yè)CT METROTOM 1

　　借助易于使用的ZEISS METROTOM 1的蔡司工業(yè)CT技術(shù)，只需一次掃描，任何人都能有效完成復(fù)雜的測量和檢查任務(wù)。測量并檢測接觸式或光學測量系統(tǒng)無法檢測到的隱藏缺陷和內(nèi)部結(jié)構(gòu)。另一個巧妙之處在于ZEISS METROTOM 1的尺寸。由于體積小，CT掃描系統(tǒng)很容易便能放置于您的測量實驗室之中，可以一次性完成內(nèi)部測量和檢查。

　　一個CT系統(tǒng)，兼具多種優(yōu)勢

　　ZEISS METROTOM 1使用工業(yè)計算機斷層掃描技術(shù)，是升級您的質(zhì)量檢查產(chǎn)品組合的理想設(shè)備。CT系統(tǒng)擁有許多優(yōu)勢：

　　操作簡便

　　ZEISS METROTOM 1是以用戶為基礎(chǔ)建造的。安裝過程簡單，只需進行少量培訓就能使用CT。只需輕輕一點，即可開始掃描流程!

　　精準的測量

　　小而徹底：您可以使用ZEISS Metrotom 1測量并評估完整的零件。這樣，您可以信賴您的測量，進行準確的數(shù)模比對、尺寸檢查和壁厚分析。

　　占地面積小

　　蔡司METROTOM 1非常緊湊。尺寸為1750 mm(長) x 1820 mm(高) x 870 mm(寬)。這意味著CT系統(tǒng)適合任何測量實驗室——可以讓您在公司內(nèi)部進行測量和質(zhì)量保證，而無需外部測量服務(wù)。

　　投資回報快

　　購置成本低，且得益于合宜的系統(tǒng)維護保養(yǎng)費用，您的設(shè)備持有將變得物超所值：ZEISS METROTOM 1的射線管無需維護保養(yǎng)。

　　ZEISS METROTOM 1——緊湊而可靠

　　先進的CT技術(shù)，用于所有測量實驗室

　　蔡司是CT技術(shù)領(lǐng)域的專家，十多年以來，其METROTOM系列一直在提供可靠的CT系統(tǒng)。蔡司計算機斷層掃描系統(tǒng)METROTOM 1現(xiàn)在為每個人都提供了可靠的X射線技術(shù)和無損質(zhì)量保證。

　　測量完整組件、 確保零件無瑕疵

　　使用ZEISS METROTOM 1，您可以在您的測量實驗室里輕松檢測出工件的隱藏缺陷。無論是中型還是小型零件，是塑料還是輕金屬材質(zhì) - 使用ZEISS METROTOM 1，您可以檢查各種零件，如連接器、塑料蓋、鋁制零件等等。

　　GOM Volume Inspect

　　全面的3D CT數(shù)據(jù)分析

　　ZEISS METROTOM 1配有操作和檢測軟件GOM Volume Inspect(體積檢測)。軟件適合初學者使用，結(jié)合了CT流程的所有階段——從掃描設(shè)置和重建，到數(shù)據(jù)評估和報告。軟件可以精準地評估幾何形狀、孔隙或內(nèi)部結(jié)構(gòu)和裝配情況。即使是超小的缺陷也可以通過單個截面圖像看到，并且可以使用多種標準自動進行評估。只需一個軟件，您就可以將幾個組件的體積數(shù)據(jù)加載到項目中，執(zhí)行趨勢分析，并將采集到的3D數(shù)據(jù)與CAD模型進行比較等等。

　　應(yīng)用領(lǐng)域：

　　無損檢測、一次掃描多個工件。

　　檢查特點：

　　測量內(nèi)部和外部結(jié)構(gòu)、檢查內(nèi)部缺陷(如縮孔)。

X射線源	160 kV
X射線探測器	2.5 k
測量容積	165 x 140 mm
測量規(guī)格(MPE SD)	< 5 μm
尺寸	1750 mm（寬） x 1820 mm（高） x 870 mm（厚）
重量	2100 kg
軟件	GOM Volume Inspect體積檢測（已包含）